TAKANO 高野 FPD 姆拉檢查膜厚測量一體機
更新日期：2026-06-30
訪問量：38
廠商性質：經銷商
生產地址：日本
簡要描述：
日本 TAKANO 高野 FPD 姆拉檢查膜厚測量一體機，是 LCD 平板顯示產線專用自動化光學檢測設備，替代傳統(tǒng)人工目視檢測，可自動檢出 CF 彩色濾光片、TFT 旋涂膜層的姆拉色斑、膜厚不均、點狀 / 線狀涂層缺陷。采用線性線掃成像 + 透射 / 反射雙模式照明光路，適配 2200×2500mm 大尺寸顯示面板，可對接現(xiàn)有流水線輸送系統(tǒng)，單片檢測節(jié)拍控制在 30 秒以內，廣泛用于顯示面板制造、
一、日本 TAKANO 高野 FPD 姆拉檢查膜厚測量一體機 產品基礎信息
| 項目 | 詳情 |
|---|---|
| 品牌型號 | TAKANO 高野（日本） FPD姆拉檢查膜厚測量一體機 |
| 核心定位 | LCD平板顯示產線自動化膜層缺陷光學檢測設備 |
| 檢測對象 | CF工序彩色濾光片、TFT工序旋涂PI/OC膜、各類樹脂涂布光學薄膜 |
| 可檢出缺陷 | 膜厚不均、姆拉色斑、點狀凹陷/凸起、線狀條紋、涂層氣泡、局部涂布瑕疵 |
| 整機形態(tài) | 落地封閉式工業(yè)機柜，帶觸控操作屏、三色運行狀態(tài)警示燈 |
| 適配產線 | 流水線在線式檢測，現(xiàn)有面板輸送線（按需改造） |
二、核心硬件規(guī)格參數(shù)
| 參數(shù)項 | 標準規(guī)格 |
|---|---|
| 成像拍攝方式 | 線性感應線掃攝像頭 |
| 照明模式 | 透射照明 / 反射照明雙模式可切換 |
| 光源配置 | 可調LED光源，配套各制程專用光學濾光片 |
| 最小缺陷檢出能力 | ≥1mm尺寸膜層缺陷 |
| 最大基板檢測尺寸 | 2200×2500mm大尺寸顯示面板 |
| 單片檢測節(jié)拍 | 30秒/張以內 |
| 電源電壓 | AC200V/50Hz |
| 整機外形尺寸 | 3000(W)×1500(D)×2200(H)mm（常規(guī)落地機柜） |
三、產品核心性能優(yōu)勢
1. 全制程自動化檢測，替代人工目視質檢
覆蓋CF彩色濾光、TFT旋涂、樹脂涂布全段工序，一站式完成姆拉色斑、膜厚不均同步檢測，實現(xiàn)檢測流程全自動化，降低人工目視檢測的漏檢率與人力成本。
2. 雙模式照明光路，適配多種膜層材質
支持透射、反射兩種照明模式自由切換，針對透明PI配向膜、半透OC保護層、彩色CF濾光片匹配對應光路，不同材質薄膜均可清晰成像，弱化基材干擾、強化膜層缺陷對比度。
3. 定制化光學光源系統(tǒng)，缺陷成像清晰
搭載可調LED光源+分制程專用光學濾光片，匹配不同涂層透光特性，針對不同膜層工藝定制成像方案，微小姆拉色斑、膜厚偏差均可清晰顯現(xiàn)。
4. 兼容現(xiàn)有產線流水線集成，改造成本低
整機為在線輸送式結構，客戶原有面板輸送線，僅需少量改造即可嵌入自動化生產鏈路，無需重建產線，適配現(xiàn)有產線升級改造需求。
5. 大尺寸面板高速檢測，適配高世代產線
最大支持2200×2500mm超大顯示基板，單片檢測時長控制在30秒內，適配高世代LCD產線大批量連續(xù)生產需求，保障產線生產節(jié)拍。
6. 全類型缺陷識別，數(shù)據(jù)化輸出檢測結果
可識別涂布工藝各類成因瑕疵，統(tǒng)一輸出缺陷分類圖像、不良點位坐標、統(tǒng)計報表，檢測數(shù)據(jù)可對接產線MES系統(tǒng)，實現(xiàn)產品全流程品質追溯。
四、日本 TAKANO 高野 FPD 姆拉檢查膜厚測量一體機 核心適用行業(yè)與場景
LCD液晶面板制造工廠：高世代CF彩色濾光片產線姆拉檢測、TFT陣列制程膜厚均勻性全檢
光學薄膜涂布廠商：各類樹脂涂層薄膜、PI配向膜、OC保護層表面瑕疵在線篩查
顯示面板品質實驗室：膜層工藝改良、缺陷成因分析與驗證
FPD自動化產線集成：涂布后段在線終檢工位配套設備
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